La diffraction des rayons X est un technique d’analyse basée sur les propriétés d’interaction entre un rayonnement X et la matière.
Les échantillons doivent être solides et cristallins. Cette technique permet :
- L’identification des phases cristallines
- La détermination de la structure cristalline et de l’arrangement des atomes
- La détermination de la texture (orientation préférentielle) des matériaux.
Spécifications techniques
- Le diffractomètre présent au C3MAG est de type X’Pert Pro Philips travaillant en q-2q avec une anticathode de cuivre (l = 1,54056 Å).
- Les échantillons sont placés sur un porte-échantillon rotatif (2t/s).
- Un porte-échantillon pour capillaires a été récemment acquis pour analyser une faible quantité de matière.
- La gamme d’angles balayés varie de 3° à 140°.
Réservation & Devis
